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展示中国品牌实力 天远三维携新品亮相2019德国Control展

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【摘要】:
2019年5月7日,为期4天的2019 Control Show 在德国斯图加特拉开帷幕。天远三维携带自主研发的多款新品,重磅亮相海外市场。在Control展首次揭开面纱的便携式光学CMM新品FreeScan Trak及FreeTrak Probe,由天远团队自主研发完成,并拥有全部核心技术。

 

2019年5月7日,为期4天的2019 Control Show 在德国斯图加特拉开帷幕。天远三维携带自主研发的多款新品,重磅亮相海外市场。

Control展是全球范围内第一流的质量保证、质量监督专业展览会,是国际质量保证行业的窗口,也是中国制造通往世界的最佳市场平台。

在Control展首次揭开面纱的便携式光学CMM新品FreeScan TrakFreeTrak Probe,由天远团队自主研发完成,并拥有全部核心技术。

 

 

海外媒体争相对新品进行相关报道

 

先来一段视频过过瘾!

 

 

FreeScan Trak便携式无线光学CMM扫描系统具有卓越的计量性能,与传统测量瓶颈相比较,在测量速度和精度方面都有着显著的优势。该系统在使用时无需贴点及喷粉,真正节省了用户时间。

系统搭载了灵活的无线激光3D扫描模块,用户在测量过程中,可自由移动扫描仪或样件的位置,特别适用于复杂工业环境中针对中/大型样件的检测需求,并且设备可以在不稳定的环境中胜任工作,测量精度不易受环境影响。

无线3D扫描模块还可单独使用,这种既可分体,又可组合的“全面兼顾”,使得FreeScan Trak便携式无线光学CMM扫描系统为全球用户带来了理想的3D测量解决方案。

 

FreeScan Trak系统优势

无线连接:让操作者摆脱数据线对操作空间的制约和对操作过程的干扰,让扫描测量更自由

无需贴点、喷粉:该系统在使用时无需贴点或喷粉,真正节省了用户时间

计量级测量:FreeScan Trak系统,精度最高可达0.030 mm; 在15立方米的测量空间中,体积精度可达0.1 mm

稳定可靠:动态参考功能让操作者在测量过程中可以自由移动光学跟踪仪和物体,保障测量过程不受外部环境影响以及测量结果的高准确度

 

 

FreeTrak Probe便携式无线CMM光学测量系统由光学跟踪模块和测量笔组成,其优势在于可满足多元化的场景使用需求。由于在使用过程中无需固定,从而有效的解决了大空间的测量需求,避免了因坐标转站来扩大测量范围所出现的精度损失与人工误差,因此测量效果可形容为“大空间,无死角”测量终端。

FreeTrak Probe操作简单,测量速度快,并且不易受环境变化的影响,适用于车间以及各类复杂工况。

 

FreeTrak Probe系统优势

计量级测量:FreeTrak Probe系统,精度最高可达0.020 mm;在15立方米的测量空间中,体积精度可达0.1 mm

动态参考:实时进行扫描和探测设备与被测部件上目标点之间的动态参考

即时检测:可在探针测量时获得CAD误差报告

无线连接:探头和跟踪器之间没有电缆以实现超强的多功能性

 

展会现场

 

 

 

 

 

 

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